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ICP全谱光谱仪的主要元件和分析技术
点击次数:25 发布时间:2019-09-25
ICP全谱光谱仪的全谱特性,又具备光谱仪对非金属元素的极低检出限,整机设计合理,操作简单易学,具有数据精准,长期稳定性好等优点。很适合于铸造、冶金、机械加工、消防、航天航空、金属加工、金属材料质量鉴定和新材料开发等领域。
 
ICP全谱光谱仪的主要元件如下:
1. 入射狭缝:火花台激发出的光源由入射狭缝进入光学系统。
2. 准直元件:使入射狭缝发出的光线变为平行光。该准直元件可以是一独立的透镜、反射镜、或直接集成在色散元件上。
3. 色散元件:通常采用光栅,使光信号在空间上按波长分散成为多条光束。
4. 聚焦元件:聚焦色散后的光束,使其在焦平面上形成一系列入射狭缝的像,其中每一像点对应于一特定波长。
5. 探测器阵列:放置于焦平面,用于测量各波长像点的光强度。该探测器阵列可以是CCD阵列或其它种类的光探测器阵列。
 
ICP全谱光谱仪的分析技术
丰富的谱线信息,分析灵敏线更多,保证分析的准确度;
基于全谱测量的数据,能够正确区分背景和谱线,有效提高测量精度;
智能选择合适的灵敏线,通过多谱线结合技术,实现低中高含量段的检测需求;
基于全谱测量数据的多峰拟合技术,有效消除谱线干扰,实现精确测量。
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